Palestrantes convidados
Yi-huaTang (Nist/USA)
Intercomparação de Padrões baseados no Efeito Josephson
Michael Stocks (BIPM/França)
As Novas Definições das Grandezas Base do S.I e a Balança de Watt do BIPM
Dave Inglis ( INMS-Canadá)
The Quantised Hall Effect and Resistance Metrology
Hector Laiz (INTI-Argentina)
Avanços na Metrologia de Sistemas Eletricos de Potência no INTI
Alessandro Ferrero (Universidade de Milão- Itália/IEEE)
Uncertainty in Measurement: is there a comprehensive mathematical theory to express it?
R.S. Freire (UFCG-Brasil)
Aplicações de Sensores Termo-Resistivos: Princípio da Equivalência Elétrica.
ATUALIZADO! Programação final do Seminário